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X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -SDD
更新日期:2024-05-14
訪問量:735
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡(jiǎn)要描述:
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -SDDFISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -SDD使用硅漂移探測(cè)器(SDD)作為X射線探測(cè)器的高性能熒光X射線膜厚測(cè)量?jī)x。使用電動(dòng)載物臺(tái),可以測(cè)量非常薄的薄膜并進(jìn)行顯微分析。
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -SDD
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -SDD
日本進(jìn)口fischerX射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -SDD
特征
- X射線探測(cè)器采用硅漂移探測(cè)器(SDD)
- 配備可編程 XY 平臺(tái)
- 大且易于進(jìn)入的測(cè)量室(密閉室型)
主要規(guī)格
使用電動(dòng)載物臺(tái),可以對(duì)極薄的薄膜進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量和微量分析。
模型 | XDV-SDD |
---|---|
測(cè)量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
X射線探測(cè)器 | 硅漂移探測(cè)器 (SDD) |
X射線管 | 微調(diào)焦管 |
初級(jí)過濾器 | 6種 |
準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm~Φ3mm |
車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm(寬 x 深 x 高) |
能量消耗 | 高達(dá) 120W |
主要應(yīng)用
- 超薄膜和多層膜的檢測(cè)(電子/半導(dǎo)體行業(yè)等)
- 篩選分析(RoHS、玩具、包裝標(biāo)準(zhǔn)有毒物質(zhì)檢測(cè)等)
- NiP成分分析、厚度測(cè)量