自動測量系統 MMS ®自動化
自動測量系統 MMS ®自動化
日本進口fischer用于薄膜厚度和電導率測量的自動測量系統 MMS ®自動化
特征
- 最多可將 4 個相同類型的探頭連接到測量儀器主體上進行同時測量。
- 最多可安裝 4 個模塊，用于各種膜厚測量方法和電導率測量。
- 使用安裝在機械臂等上的探頭進行自動測量。
- 支持長達 30 m 的電纜
- 測量儀主體可以安裝在控制面板的 DIN 導軌上
主要規(guī)格
| 測量方法 | 電磁式、渦流式、渦流相式、磁式、電阻式 |
|---|---|
| 測量范圍 | 取決于所使用的模塊和探頭的組合 |
| 測量精度 | 取決于所使用的模塊和探頭的組合 |
| 數據容量 | 在多達 1,000 個應用程序中保存 100 萬次測量 |
| 機身尺寸（基本單元） | 約 365 x 223 x 127 毫米 |
| 重量 | 連接一個模塊時：約 4.5 kg |
主要應用
- PERMASCOPE 模塊：磁性和非磁性金屬上的絕緣涂層
（例如鐵或鋁上的涂層） - PERMASCOPE模塊：磁性金屬上的非磁性膜
（鋅、銅、鐵上的鉻膜等） - PHASCOPE DUPLEX 模塊：鐵和鋁涂層
- PHASCOPE DUPLEX 模塊：同時測量鐵上的兩層鍍膜/鋅層
- SIGMASCOPE PHASCOPE1 模塊、SR-SCOPE 模塊：測量 PC 基板上的銅膜厚度
- NICKELSCOPE 模塊：在有色金屬或絕緣基板上電解鍍鎳
